XRF（X 射线荧光）技术

XRF（X 射线荧光）技术

    XRF（X 射线荧光）是一种用于测定材料中元素组成的无损分析技术。XRF 技术通过分析可样品由一级 X 射线源激发而散射出的荧光（或二级）X 射线，来确定样品的化学属性。样品中的每一种元素受激发后都会产生一组特定的荧光 X 射线（“指纹”），因此对于材料化学成分定量及定性分析而言，XRF 光谱法是一种非常好的技术。

X 射线荧光过程

1.  用受控 X 射线管发出的高能 X 射线照射固体或液体样品。

2.  当样品中的某个原子被能量充足（大于原子的 K 或 L 壳层结合能）的 X 射线撞击时，就会从原子的一个内轨道壳层中逐出一个电子。

3.  原子恢复稳定性，并使用来自原子更高能量轨道壳层之一的电子内轨道壳层的空缺。

4.  电子通过释放荧光 X 射线降至较低能量状态。该 X 射线的能量等于电子两个量子态之间的特定能量差。这种能量的测量是 XRF 分析的基础。

XRF 光谱解读

大多数原子都有几个电子轨道（例如 K 壳层、L 壳层、M 壳层）。当 X 射线能量导致电子进出这些壳层时，会产生强度不同的 XRF 峰，并且将以图表形式在光谱中显示 X 射线强度峰与能量峰的函数关系。峰能量用于识别元素，峰高度/强度通常表示其浓度。

能量色散 X 射线荧光 (EDXRF)

EDXRF 是便携式 X 射线荧光分析仪中常用的技术。EDXRF 设计用于同时分析多组元素，以便快速测定样品中的相应元素及其相对浓度，换句话说，即样品的元素化学成分。

欲了解如何使用这些信息，请参考废金属。回收商需要正确识别多种合金等级，在材料转移点快速分析其化学成分，并向客户保证产品的质量。金属合金专为不可互换的特殊功能而设计；成分的微小变化就会导致明显不同的机械性能。幸运的是，手持 XRF 分析仪可以很容易地区分这些等级。